X4系列熔点测定仪

X4系列熔点测定仪仪器简介： 物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中，熔点测定是辨认该物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一。目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。
本仪器可用载玻片方法测定物质的熔点、形变、色变等；也可用药典规定的毛细管方法测其熔点，尤其对深色样品，如医药中间体、颜料、橡胶促进剂等的熔点，并能自始自终观察到其熔化的全过程。


▲X4系列熔点测定仪主要技术参数及配置：
1. 放大倍数：20X-40X
2. 视场直径：10mm-5mm
3. 样品量＜1mg/次
4. 工作距离105mm
5. 测量范围：测量范围室温-320℃
6. 测量精密度：室温∽200℃的误差±1℃
200℃∽320℃的误差±2℃
7. 电源/功率:220V 50HZ/80W
8. 配置:控制箱/加热测温台/温度传感器/载玻片/换档体式显微镜/隔热玻璃/散热器/镊子

▲仪器结构原理：
本仪器显微镜、加热台为分体结构,通过简单插入式热传感器相联接，装配简单,使用方便，显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。加热台用电热丝加热，并带有散热器,可快速降温。可用于载波片法测量，也可用毛细管测量熔点。

▲操作方法：
1.    新购仪器，电源接通，开关打到加热位置，从显微镜中观察热台中心光孔是否处于视场中，若左右偏，可左右调节显微镜来解决。前后不居中，可以松动热台两旁的两只螺钉，注意不要那下来，只要松动就可以了，然后前后推动热台上下居中即可，锁紧两只螺钉。在做推动热台时，为了防止热台烫伤手指，把波段开关和电位器扳到编号zui小位置，即逆时针旋到底。
2.    进行升温速率调整，这可用秒表式手表来调整。再秒表某一值时，记录下这时的温度值，然后，秒表转一圈（一分钟）时在记录下温度值。这样连续记录下来，直到你所要求测量的熔点值时，其升温速率为1℃/分。太快或太慢可通过粗调和微调旋钮来调节。注意即使粗调和微调旋钮不动，但随着温度的升高，其升温速率会变慢。
3.    测温仪的传感器上，把其插入热台孔到底即可，若其位置不对，将影响测量准确度。
4.    要得到准确的熔点值，先用熔点标准物质进行测量标定。求出修正值。（修正值=标准值- 所测熔点值），作为测量时的修正依据。注意：标准样品的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时，（样品的熔点值=该样品实测值+修正值）。
5.    对待测样品要进行干燥处理，或放在干燥缸内进行干燥，粉末要进行研细。
6.    当采用载——该玻片测量时，建议该盖玻片（薄的一块）放在热台上，放上药粉，再放上载波片测量。
7.    在数字温度显示zui小一位（如8或7之间跳动时）应读为8.5℃。
8.    在重复测量时，开关处于中间关的状态，这时加热停止。自然冷却到10以下时，放入样品，开关打到加热时，即可进行重复测量。
9.    测试完毕，应切断电源，当热台冷却到室温时，方可将仪器装入包箱内。
10.建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在*次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意（1）室温的影响；在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢。（2）电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率一定时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可。编号越大，升温速率越快。

▲主要特点：
1.    本仪器使用毛细管法进行测量。
2.    根据特殊要求，本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。
3.    本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
4.    本仪器结构简单可靠，使用方便。
5.    升温速率连续可调。