Xradia Context microCT X射线显微镜 蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位，您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和高尺度样本进行成像，同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。

蔡司 Xradia Synchrotron 显微镜蔡司在同步加速器实验室中的 X 射线显微镜装机量全球靠前，藉此不断提升先进研究机构的实力。在实验室内引入蔡司 X 射线纳米断层成像和荧光显微技术，让耗时且耗费财力的内部开发成为过去。

创新的 蔡司 Xradia 800 Ultra显微镜，将高通量实验室 X 射线源与专业的X 射线光学器件整合至一套独立的超高分辨率 CT 扫描 X 射线显微镜中，从而填了 SEM、TEM 或 AFM 等现有高分辨率成像技术与光学显微镜技术或传统 microCT 技术之间的空白。

蔡司 Xradia 810 Ultra显微镜将纳米级三维 X 射线的成像性能提升 10 倍。这款创新的 X 射线显微镜（XRM） 能在 5.4 keV 的低能量下工作，为中低原子序数样品及科学与工业领域内的材料成像提供更出色的反差和图像质量。

蔡司 Xradia 410 Versa显微镜 高性能三维 X 射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。

Xradia 510 Versa显微镜使用两级放大技术，实现大工作距离下的高分辨率（RaaD）。首先，样品图像与传统微米 CT 一样进行几何放大。在第二级，闪烁器将 X 射线转换为可见光，然后进行光学放大。Xradia Versa 解决方案降低了对几何放大的依赖性，因此可在大工作距离下保持亚微米高分辨率，使得对各种尺寸的样品和原位样品舱内的样品进行高效研究成为可能。