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半导体专用显微镜

简要描述:半导体专用显微镜,从尺寸极小的MEMS传感器到大尺寸晶圆,甚至整个平板显示器,检测期间不会对样品造成破坏。Axio Imager Vario支持的最大样品高度为254 mm,最大横向样品空间为300 mm,大大拓展了可以测试的样品范围。机柱设计确保了良好的稳定性。可满足在洁净室内检测晶圆的应用要求。利用驱动Z轴的电动马达与自动聚焦硬件确保自动调整至理想的聚焦位置。

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-04-23
  • 访  问  量:278

详细介绍

检查大尺寸样品–满足自动化洁净室的要求

从尺寸极小的MEMS传感器到大尺寸晶圆,甚至整个平板显示器,检测期间不会对样品造成破坏。Axio Imager Vario支持的最大样品高度为254 mm,最大横向样品空间为300 mm,大大拓展了可以测试的样品范围。机柱设计确保了良好的稳定性。可满足在洁净室内检测晶圆的应用要求。利用驱动Z轴的电动马达与自动聚焦硬件确保自动调整至理想的聚焦位置。

洁净室
半导体生产和晶圆检测需要在洁净室内进行。根据DIN EN ISO 14644-1标准,以每立方米的颗粒数量和大小将洁净室划分成不同等级。Axio Imager Vario已通过此标准认证,并满足5级洁净室的应用要求。ISO 5级洁净室相当于原先标准FED STD 209E(1992)的100级。洁净室套件中包含一个7x物镜转盘、一个颗粒保护罩和防喷嚏保护罩。

优势

蔡司 Axio Imager Vario 用于检测大尺寸样品的正置式显微镜
  • 具有两种手动机柱和一种电动机柱(配有符合工业标准的三个模式控制按钮)可供选择,充分利用显微镜的最大横向样品空间300 mm x 300 mm和最大样品高度254 mm的优势。

  • Axio Imager Vario能通过物镜转盘的上下移动来聚焦样品。这意味着即便是较重的样品,依然可以获得高聚焦精度和可重复性。

  • 借助硬件自动对焦功能,可以精准快速地聚焦低对比度的反射样品。

  • 将Axio Imager Vario与LSM 900结合使用,能够以高分辨率无接触地分析敏感样品

  • Axio Imager Vario已通过DIN EN ISO 14644-1认证,并满足5级洁净室的应用要求。


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