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  • 北京蔡司材料显微镜

    蔡司材料显微镜 可对晶粒尺寸、物相含量夹杂物以及膜层厚度进行测量等;能进行金相学、偏光成像,为材料科学提供完整解决方案。通过 C-DIC(圆偏光微分干涉衬度)观察方式,可凸显样品表面如划痕等微小浮凸结构(100um)。

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    更新日期:2026-08-20
  • 北京蔡司教学显微镜

    蔡司教学显微镜 专 为 材 料 实 验 室 最 常 见 的 光 学 成 像 要 求 而 设 计 。具 备带 编 码 和 自 动 化 功 能 ,特 别 适 合 于 对 数 据 质 量 和 可 重 复 性 要 求 较 高 的 检 测 工 作 。但 Axioscope 的 功 能 并 不 只 有 这 些 。它 还 善 于 进 行 材 料 科 学 研 究 中 的 高

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    更新日期:2026-08-20
  • 北京蔡司科研级显微镜

    科研级全自动正置材料显微镜 Axio Imager具备明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方式;可进行金相学、偏光成像,为材料科学提供完整的全自动解决方案。

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    厂商性质:代理商
    更新日期:2026-08-20
  • 科研级全自动正置材料显微镜 Axio Imager

    科研级全自动正置材料显微镜 Axio Imager具备明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方式;可进行金相学、偏光成像,为材料科学提供完整的全自动解决方案。

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    更新日期:2026-04-09
  • 研究级正置材料显微镜 Axioscope

    研究级正置材料显微镜 Axioscope 可对晶粒尺寸、物相含量夹杂物以及膜层厚度进行测量等;能进行金相学、偏光成像,为材料科学提供完整解决方案。通过 C-DIC(圆偏光微分干涉衬度)观察方式,可凸显样品表面如划痕等微小浮凸结构(100um)。

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    更新日期:2026-04-09
  • ZEISS Visioner 1 显微镜

    ZEISS Visioner 1 显微镜传统检测系统采用浅景深,这意味着样品的某些部分可能无法聚焦,这可能导致功能缺失、用户疲劳和检测不完整。ZEISS Visioner 1为光学检测与数据记录领域带来巨大变革。在微镜阵列透镜系统(MALSTM)技术的推动下,实现实时全焦成像功能,同时保障您今后的每次使用。

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    更新日期:2025-07-11
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