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ZEISS Axio Imager 2 金相显微镜

简要描述:当您进行高级材料研究时,请在光学显微镜工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 金相显微镜获得材料的准确且可重复的结果,让您受益匪浅。选择适合您的应用的系统。通过颗粒分析、共焦或相关显微镜等专用解决方案扩展您的仪器。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-04-23
  • 访  问  量:251

详细介绍

可重复的结果

享受无振动的工作条件

欣赏 Axio Imager 2 稳定的成像条件,尤其是在使用高放大倍率或执行时间依赖性研究时。由于 Axio Imager 2 的机动化,可在始终在恒定条件下工作的同时实现快速且可重复的结果。用于材料研究的<strong><strong>ZEISS Axio Imager 2 金相显微镜</strong></strong>


用于材料研究的蔡司 Axio Imager 2


用于自动材料分析的开放式显微镜系统

当您进行高级材料研究时,请在光学显微镜工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 获得材料的准确且可重复的结果,让您受益匪浅。选择适合您的应用的系统。通过颗粒分析、共焦或相关显微镜等专用解决方案扩展您的仪器。

  • 可重复的结果

  • 模块化设计

  • 模块化设计

    获得增强的灵活性

    无论是在学术研究还是工业研究中,材料显微镜都面临着各种挑战。借助 Axio Imager 2,您将能够应对并赢得这些挑战。连接特定于应用的组件并执行例如颗粒分析。研究非金属夹杂物 (NMI)、液晶或基于半导体的 MEM。通过共焦或相关显微镜专用解决方案扩展您的仪器。

    用于材料研究的<strong><strong>ZEISS Axio Imager 2 金相显微镜</strong></strong>

    高光学性能

    实现出色的对比度和分辨率

    • 使用不同的对比技术检查一系列材料,例如金属、复合材料或液晶。

    • 使用反射光并在明场、暗场、微分干涉衬度 (DIC)、圆微分干涉衬度 (C-DIC)、偏振或荧光下观察样品。

    • 使用透射光并在明场、暗场、微分干涉衬度 (DIC)、偏振或圆偏振下检查样品。对比度管理器确保可重复的照明设置。


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