SEM原位解决方案——SEM纳米力测量系统

简要描述：SEM原位解决方案——SEM纳米力测量系统将纳米压痕仪集成进扫描电镜中，使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。

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厂商性质：代理商
更新时间：2024-09-23
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泽攸科技电子显微镜

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详细介绍

产品描述

PicoFemto NI-100 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中，使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。该系统由一个三维压电驱动的样品台和一个纳米力测量探针组成。样品安装方式灵活多样，可在三维纳米位移台的驱动下，达到超过5 mm的准确定位，定位分辨率优于100 nm，以使待测量区域准确对准力探针。

力探针同样由压电驱动，在轴向达到100 um的伸缩长度，位移分辨率优于0.25mm。由力传感器准确测量所施加的力的载荷，可测拉力和压力。并有不同的最大量程的力传感器可选配，达到很好的测量效果。通过搭配电学、光学、加热等模块，该产品还可以实现包括原位力/热耦合、力/光耦合、力/电耦合、力/热/晶体取向耦合等多场耦合研究。