原位解决方案力学-电学测量系统(定量力+电+三维操纵)在标配TEM-STM样品杆内集成纳牛力传感器,实现高精度的力学及电学测量。
原位解决方案-低温电学测试系统(非定量力+电+低温+三维操纵)在标配TEM-STM样品杆内集成低温环境控制单元,从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。
原位解决方案-光电性质测试系统(非定量力+电+光+三维操纵)在标配TEM-STM样品杆内集成光纤单元,配合外接光谱仪或激光器实现光电测量或者CL测量。
原位MEMS-TEM-STM多场测量系统(非定量力+电+光+加热)是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统,使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境(包括力,热,光,电等),从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
原位解决方案-高温力学测量系统(定量力+电+三维操纵+加热)同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000℃加热的同时进行定量的力学测量。实现了透射电镜中真正意义上的高分辨率定量原位力学研究。
原位解决方案-样品杆预抽存储系统PicoFemto透射电子显微镜样品杆预抽存储系统(T-station)由内置进口分子泵组、样品杆预抽室及触摸显示屏组成。