研究级正置材料显微镜 型号：Axioscope
研究级正置材料显微镜 Axioscope系列适合于对数据质量和可重复性要求较高的检测工作。
产品功能：可对晶粒尺寸、物相含量夹杂物以及膜层厚度进行测量等；能进行金相学、偏光成像，为材料科学提供完整解决方案。
研究级正置材料显微镜Axioscope核心参数：
光学系统：无限远复消色差校正与反差增强型光学系统。
物镜：5x、10x、20x、50x、100x，可选 1.25x、2.5x、40x、150x。
目镜：10x/23。
观察功能：反射光有明场、ADF 高级暗场、圆偏光、微分干涉、荧光。
物镜转盘：6孔。
应用案例：通过 C-DIC(圆偏光微分干涉衬度)观察方式，可凸显样品表面如划痕等微小浮凸结构(100um)。
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