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TEM原位拉伸与360°水平旋转样样品杆 PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆，可在室温条件下对材料施加拉力，结合透射电镜原位观察材料结构的变化。
原位MEMS加热电学测量系统透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。
PicoFemto透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统，在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境，实现1 Bar & 800 ℃的端观测条件。
原位STM-TEM力电一体测量系统PicoFemto透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
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