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原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
原位解决方案-高温力学测量系统(定量力+电+三维操纵+加热）同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000℃加热的同时进行定量的力学测量。实现了透射电镜中真正意义上的高分辨率定量原位力学研究。
原位解决方案-样品杆预抽存储系统PicoFemto透射电子显微镜样品杆预抽存储系统（T-station）由内置进口分子泵组、样品杆预抽室及触摸显示屏组成。
TEM原位拉伸与360°水平旋转样样品杆 PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆，可在室温条件下对材料施加拉力，结合透射电镜原位观察材料结构的变化。
原位MEMS加热电学测量系统透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。
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