13911246050,010-82967128
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。
PicoFemto透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统，在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境，实现1 Bar & 800 ℃的端观测条件。
原位STM-TEM力电一体测量系统PicoFemto透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
TEM原位高温力学测量系统 PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。
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