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原位STM-TEM光电一体测量系统

简要描述:PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-09-23
  • 访  问  量:243

详细介绍

产品描述

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体样品杆,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块,从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。


• 性能指标

透射电镜指标:

△ 兼容电镜型号及极靴;

△ 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);

△ 保证透射电镜原有分辨率。

电学测量指标:

△ 包含一个电流电压测试单元;

△ 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;

△ 电流分辨率:优于100 fA;

△ 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;

△ 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

扫描探针操纵指标:

△ 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

△ 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

△ 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

光纤指标:

△ 光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;

△ 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜;

△ 可选SMA接头、FC接头。


• 产品特色

△ 采用双向光纤,可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究;

△ 光电一体化解决方案,具有高拓展性;

△ 高稳定性,保证电镜原有分辨率;

△ 超低维护成本:设备配套的针尖制备系统可低成本制备针尖耗材。"爪-球“微动结构已实现模块化量产,维护成本低;

△ 庞大的用户群:在国内拥有近200个高质量原位用户,出口到欧美澳等地。每年,用户会产出大量高质量研究成果。定期组织各类用户交流活动,搭建学术平台供用户交流;

△ 成熟的技术支持网络:在安徽、北京、东莞和上海拥有分公司,其他各地拥有若干技术支持网点,24小时提供技术支持 

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