研究级正置材料显微镜 Axioscope

简要描述：研究级正置材料显微镜 Axioscope 可对晶粒尺寸、物相含量夹杂物以及膜层厚度进行测量等；能进行金相学、偏光成像，为材料科学提供完整解决方案。通过 C-DIC（圆偏光微分干涉衬度）观察方式，可凸显样品表面如划痕等微小浮凸结构（100um）。

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研究级正置材料显微镜 Axioscope系列适合于对数据质量和可重复性要求较高的检测工作。

产品功能：可对晶粒尺寸、物相含量夹杂物以及膜层厚度进行测量等；能进行金相学、偏光成像，为材料科学提供完整解决方案。

研究级正置材料显微镜Axioscope核心参数：

光学系统：无限远复消色差校正与反差增强型光学系统。

物镜：5x、10x、20x、50x、100x，可选 1.25x、2.5x、40x、150x。

目镜：10x/23。

观察功能：反射光有明场、ADF 高级暗场、圆偏光、微分干涉、荧光。

物镜转盘：6孔。

应用案例：通过 C-DIC（圆偏光微分干涉衬度）观察方式，可凸显样品表面如划痕等微小浮凸结构（100um）。

研究级正置材料显微镜 Axioscope

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