13911246050,010-82967128
MEMS-STM-TEM PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等）
原位解决方案-扫描电镜原位高温拉伸台扫描电镜原位高温拉伸台集成了力学拉伸模块以及高温环境模块，可以实现在扫描电镜中对样品原位加热的同时进行拉伸实验。
PicoFemto电镜原位气氛加热环境测量系统原位解决方案，将MEMS气氛环境微腔和加热模块集成到扫描电镜样品台上，在扫描电镜中制造可控的气氛环境并且可以对实验样品原位加热。
电镜原位液体-电化学测量系统原位解决方案，采用全新的O圈辅助密封设计，攻克了以往原位液体解决方案装样困难的问题。
原位解决方案——光电力一体化系统集成了扫描探针控制单元，可在三维空间内对电学探针与光纤探针进行亚纳米级别精度的操纵与定位。
SEM原位解决方案——SEM纳米力测量系统将纳米压痕仪集成进扫描电镜中，使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。
欢迎来到
联系人：霍先生
地址：北京市昌平区黄平路泰华龙旗广场D座1502室
邮箱：huogang010@163.com
传真：010-82967358
